1~20 eV低能电子对DNA的多重损伤及其瞬态阴离子机制

庄浦祥; 董艳芳; 邵宇; 郑宜

doi:10.11889/j.1000-3436.2021.rrj.39.040305

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1~20 eV低能电子对DNA的多重损伤及其瞬态阴离子机制

辐射生物学与医学 | 更新时间：2025-03-01

- 1~20 eV低能电子对DNA的多重损伤及其瞬态阴离子机制
- Clustered DNA damages induced by low-energy (1~20 eV) electrons and the general mechanism of transient anions
- “在超高真空条件下，低能电子照射质粒DNA，揭示了DNA损伤的量子产率与电子能量的关系，为电离辐射导致DNA多重损伤的机制研究提供了新见解。”
- 辐射研究与辐射工艺学报 2021年39卷第4期页码：45-53
- 作者机构：
  
  福州大学化学学院光催化研究所能源与环境光催化国家重点实验室福州 350116
- 作者简介：
  
  庄浦祥，男，1995年10月出生，2018年于闽南师范大学获学士学位，现为福州大学化学学院硕士研究生
  郑宜，博士，教授，E-mail: yizheng@fzu.edu.cn
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金项目(21673044)
- DOI：10.11889/j.1000-3436.2021.rrj.39.040305
  中图分类号： Q3-3
- 收稿日期：2020-12-24，
  
  修回日期：2021-02-03，
  
  录用日期：2021-02-03，
  
  纸质出版日期：2021-08-20
- 稿件说明：
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庄浦祥,董艳芳,邵宇等.1~20 eV低能电子对DNA的多重损伤及其瞬态阴离子机制[J].辐射研究与辐射工艺学报,2021,39(04):45-53.

ZHUANG Puxiang,DONG Yanfang,SHAO Yu,et al.Clustered DNA damages induced by low-energy (1~20 eV) electrons and the general mechanism of transient anions[J].Journal of Radiation Research and Radiation Processing,2021,39(04):45-53.
庄浦祥,董艳芳,邵宇等.1~20 eV低能电子对DNA的多重损伤及其瞬态阴离子机制[J].辐射研究与辐射工艺学报,2021,39(04):45-53. DOI： 10.11889/j.1000-3436.2021.rrj.39.040305.

ZHUANG Puxiang,DONG Yanfang,SHAO Yu,et al.Clustered DNA damages induced by low-energy (1~20 eV) electrons and the general mechanism of transient anions[J].Journal of Radiation Research and Radiation Processing,2021,39(04):45-53. DOI： 10.11889/j.1000-3436.2021.rrj.39.040305.

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1~20 eV低能电子对DNA的多重损伤及其瞬态阴离子机制

Clustered DNA damages induced by low-energy (1~20 eV) electrons and the general mechanism of transient anions

DOI：10.11889/j.1000-3436.2021.rrj.39.040305