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模拟数字转换器AD574总剂量和单粒子翻转的协合效应
辐射交叉学科研究 | 更新时间:2025-03-01
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    • 模拟数字转换器AD574总剂量和单粒子翻转的协合效应

    • Synergistic effect of total ionizing dose and single-event upset in the analog/digital converter AD574

    • 美国亚德诺半导体技术有限公司12位模拟数字转换器AD574在60Co γ辐照条件下累积400 Gy(Si)电离剂量后,输出码值翻转向中心码值右侧偏移,同时造成翻转次数的改变。初步分析认为该现象与模拟/数字转换器内部比较器单粒子瞬态的敏感性有关。
    • 辐射研究与辐射工艺学报   2021年39卷第4期 页码:91-96
    • DOI:10.11889/j.1000-3436.2021.rrj.39.040702    

      中图分类号: O77+4;TN710.2
    • 收稿日期:2021-01-18

      修回日期:2021-05-27

      录用日期:2021-05-27

      纸质出版日期:2021-08-20

    移动端阅览

  • 相传峰,姚帅,于新等.模拟数字转换器AD574总剂量和单粒子翻转的协合效应[J].辐射研究与辐射工艺学报,2021,39(04):91-96. DOI: 10.11889/j.1000-3436.2021.rrj.39.040702.

    XIANG Chuanfeng,YAO Shuai,YU Xin,et al.Synergistic effect of total ionizing dose and single-event upset in the analog/digital converter AD574[J].Journal of Radiation Research and Radiation Processing,2021,39(04):91-96. DOI: 10.11889/j.1000-3436.2021.rrj.39.040702.

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