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中子辐照诱生锆钛酸铅厚膜界面缺陷
辐射物理 | 更新时间：2024-10-23
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    • 中子辐照诱生锆钛酸铅厚膜界面缺陷

    • Neutron irradiation related interfacial defects in lead zirconate titanate thick film

    • “中子辐照影响PZT压电厚膜性能，辐照注量越大，界面缺陷激活能越高，极化强度和介电常数下降，漏电流增大。”
    • 辐射研究与辐射工艺学报   2024年42卷第5期 页码：50801

    • DOI：10.11889/j.1000-3436.2024-0024    

      中图分类号： TL11

    • 纸质出版日期：2024-10-20，

      收稿日期：2024-03-26，

      修回日期：2024-07-15，

      录用日期：2024-07-15

    移动端阅览

  • 彭茂洋, 孟德超, 傅正平. 中子辐照诱生锆钛酸铅厚膜界面缺陷[J]. 辐射研究与辐射工艺学报, 2024, 42(5): 050801. DOI： 10.11889/j.1000-3436.2024-0024.

    PENG Maoyang, MENG Dechao, FU Zhengping. Neutron irradiation related interfacial defects in lead zirconate titanate thick film[J]. Journal of Radiation Research and Radiation Processing, 2024, 42(5): 050801. DOI： 10.11889/j.1000-3436.2024-0024.

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