基于多层硅像素芯片的质子断层辐射成像研究

王宏凯; 侯露; 冉虎; 朱珏琦; 祁润奕; 陈轶伦; 李明辉; 张洪林; 牛传猛

doi:10.11889/j.1000-3436.2026-0001

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基于多层硅像素芯片的质子断层辐射成像研究

辐射生物学与医学 | 更新时间：2026-06-18

- 基于多层硅像素芯片的质子断层辐射成像研究
- Proton tomography based on multi-layer pixel sensor
- 辐射研究与辐射工艺学报 2026年44卷第3期页码：30303
- 作者机构：
  
  1.国家癌症中心/国家肿瘤临床医学研究中心/中国医学科学院北京协和医学院肿瘤医院放疗科北京 100021
  2.中山大学物理学院广州 510275
  3.清华大学核能与新能源技术研究院北京 100084
  4.重离子科学与技术国家重点实验室中国科学院近代物理研究所兰州 730000
- 作者简介：
  
  王宏凯，男，1987年出生，2018年于乌特勒支大学获得博士学位，E-mail: h.wang@cicams.ac.cn
  侯露，男，1991年出生，2015年于承德医学院获得医学学士学位， E-mail: 742582220@163.com
  张洪林，博士，E-mail: zhl1994@impcas.ac.cn
  牛传猛，博士，E-mail: qdniu1984@163.com
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金(12475314);中央高水平医院临床科研业务费资助(2025-LYZX-R-B02)
- DOI：10.11889/j.1000-3436.2026-0001
  中图分类号： R318;R811.1
- 收稿：2026-01-05，
  
  修回：2026-02-06，
  
  录用：2026-02-06，
  
  纸质出版：2026-06-20
- 稿件说明：
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王宏凯, 侯露, 冉虎, 等. 基于多层硅像素芯片的质子断层辐射成像研究[J]. 辐射研究与辐射工艺学报, 2026, 44(3): 030303.

WANG Hongkai, HOU Lu, RAN Hu, et al. Proton tomography based on multi-layer pixel sensor[J]. Journal of Radiation Research and Radiation Processing, 2026, 44(3): 030303.
王宏凯, 侯露, 冉虎, 等. 基于多层硅像素芯片的质子断层辐射成像研究[J]. 辐射研究与辐射工艺学报, 2026, 44(3): 030303. DOI： 10.11889/j.1000-3436.2026-0001. CSTR： 32195.14.j.JRRRP.1000-3436.2026-0001.

WANG Hongkai, HOU Lu, RAN Hu, et al. Proton tomography based on multi-layer pixel sensor[J]. Journal of Radiation Research and Radiation Processing, 2026, 44(3): 030303. DOI： 10.11889/j.1000-3436.2026-0001. CSTR： 32195.14.j.JRRRP.1000-3436.2026-0001.

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Proton tomography based on multi-layer pixel sensor

DOI：10.11889/j.1000-3436.2026-0001