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数模/模数转换器和大容量存储器件γ射线辐射试验研究
研究简报 | 更新时间:2023-03-30
    • 数模/模数转换器和大容量存储器件γ射线辐射试验研究

    • Radiation effect test on ADC/DAC and high density memory devices with 60Co γ-rays

    • 辐射研究与辐射工艺学报   2006年24卷第4期 页码:253-256

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  • 邢克飞, 王跃科, 潘华锋. 数模/模数转换器和大容量存储器件γ射线辐射试验研究[J]. 辐射研究与辐射工艺学报, 2006,24(4):253-256. DOI:

    XING Kefei, WANG Yueke, PAN Huafeng. Radiation effect test on ADC/DAC and high density memory devices with 60Co γ-rays[J]. Journal of Radiation Research and Radiation Processing, 2006,24(4):253-256. DOI:

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