集成电路辐射改性的研究

符俊吾; 赵达夫; 邓荣忠; 童舜涛

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集成电路辐射改性的研究

简报 | 更新时间：2023-04-23

- 集成电路辐射改性的研究
- THE RESEARCH OF RADIATION MODIFICATION OF INTEGRATED CIRCUIT
- 辐射研究与辐射工艺学报 1992年10卷第1期页码：60-62
- 作者机构：
  
  1.湖南省原子能农业应用研究所，长沙
  2.国营韶光微电子总公司集成电路厂，长沙
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
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符俊吾, 赵达夫, 邓荣忠, 等. 集成电路辐射改性的研究[J]. 辐射研究与辐射工艺学报, 1992,10(1):60-62.

Fu Junwu, Zhao Dafu, Deng Rongzhong, et al. THE RESEARCH OF RADIATION MODIFICATION OF INTEGRATED CIRCUIT[J]. Journal of Radiation Research and Radiation Processing, 1992,10(1):60-62.
符俊吾, 赵达夫, 邓荣忠, 等. 集成电路辐射改性的研究[J]. 辐射研究与辐射工艺学报, 1992,10(1):60-62. DOI：

Fu Junwu, Zhao Dafu, Deng Rongzhong, et al. THE RESEARCH OF RADIATION MODIFICATION OF INTEGRATED CIRCUIT[J]. Journal of Radiation Research and Radiation Processing, 1992,10(1):60-62. DOI：

摘要

采用,60,Co γ射线辐照对集成电路进行改性研究，通过试验，结果表明，集成电路经过辐照可以达到改善参数，提高元件的合格率。与美国Rikitts研究相吻合。

Abstract

The properties of integrate circuit can be changed by ,60,Co ,γ, radiation. The results show that the parameter can be improved and the passing rate of element can be prompted.

关键词

辐射集成电路参数变化

Keywords

RadiationIntegrate circuitParameter changing

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THE RESEARCH OF RADIATION MODIFICATION OF INTEGRATED CIRCUIT

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