双酚A型聚砜X射线致发降解的X射线光电子能谱研究

冀克俭; 张银生

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双酚A型聚砜X射线致发降解的X射线光电子能谱研究

科研简报 | 更新时间：2023-04-23

- 双酚A型聚砜X射线致发降解的X射线光电子能谱研究
- X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY STUDY ON X-RAY INDUCED DEGRADATION OF BISPHENOL A POLYSULPHONE FILMS
- 辐射研究与辐射工艺学报 1992年10卷第3期页码：187-189
- 作者机构：
  
  1.山东非金属材料研究所，济南
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
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冀克俭, 张银生. 双酚A型聚砜X射线致发降解的X射线光电子能谱研究[J]. 辐射研究与辐射工艺学报, 1992,10(3):187-189.

Ji Kejian, Zhang Yinsheng. X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY STUDY ON X-RAY INDUCED DEGRADATION OF BISPHENOL A POLYSULPHONE FILMS[J]. Journal of Radiation Research and Radiation Processing, 1992,10(3):187-189.
冀克俭, 张银生. 双酚A型聚砜X射线致发降解的X射线光电子能谱研究[J]. 辐射研究与辐射工艺学报, 1992,10(3):187-189. DOI：

Ji Kejian, Zhang Yinsheng. X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY STUDY ON X-RAY INDUCED DEGRADATION OF BISPHENOL A POLYSULPHONE FILMS[J]. Journal of Radiation Research and Radiation Processing, 1992,10(3):187-189. DOI：

摘要

利用X射线光电子能谱（XPS）研究了双酚A型聚砜薄膜在超高真空下X射线辐照所引起的表面化学组成变化。结果表明：（1）聚砜在X射线辐照下，部分砜基团变成了硫化物。（2）硫化物的生成量取决于辐照时间。（3）在XPS的取样深度里，同一辐照时间下，X射线致发降解的程度基本上是均匀的。

Abstract

The changes of surface composition of bisphenol A polysulphone films induced by X ray in ultrahigh vacuum have been studied using X ray photoelectron spectroscopy (XPS). The results show: (1) The sulphone group is partially changed into sulphide. (2) The extent of sulphide formation is dependent on irradiation time. (3) The degree of X ray induced degradation is basically uniform at the same irradiation time within the sampling depth.

关键词

X射线光电子能谱聚砜X射线辐照降解

Keywords

X ray photoelectron spectroscopyPolysulphoneX-rayradiationDegradation

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