电子束辐照聚酰亚胺薄膜的热刺激电流研究

王玉芬; 曹晓珑; 刘耀南

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电子束辐照聚酰亚胺薄膜的热刺激电流研究

科研简报 | 更新时间：2023-04-23

- 电子束辐照聚酰亚胺薄膜的热刺激电流研究
- THERMALLY STIMULATED CURRENT INVESTIGATION OF POLYIMIDE FILMS IRRADIATED BY ELECTRON BEAM
- 辐射研究与辐射工艺学报 1992年10卷第3期页码：182-186
- 作者机构：
  
  1.西安交通大学，西安
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  中图分类号：
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王玉芬, 曹晓珑, 刘耀南. 电子束辐照聚酰亚胺薄膜的热刺激电流研究[J]. 辐射研究与辐射工艺学报, 1992,10(3):182-186.

Wang Yufen, Cao Xiaolong, Liu Yaonan. THERMALLY STIMULATED CURRENT INVESTIGATION OF POLYIMIDE FILMS IRRADIATED BY ELECTRON BEAM[J]. Journal of Radiation Research and Radiation Processing, 1992,10(3):182-186.
王玉芬, 曹晓珑, 刘耀南. 电子束辐照聚酰亚胺薄膜的热刺激电流研究[J]. 辐射研究与辐射工艺学报, 1992,10(3):182-186. DOI：

Wang Yufen, Cao Xiaolong, Liu Yaonan. THERMALLY STIMULATED CURRENT INVESTIGATION OF POLYIMIDE FILMS IRRADIATED BY ELECTRON BEAM[J]. Journal of Radiation Research and Radiation Processing, 1992,10(3):182-186. DOI：

摘要

报道用热刺激电流研究聚酰亚胺薄膜受电子束辐照前后试样中陷阱密度的变化，并对这些试样进行了介电性能的研究。通过不同辐照剂量下相应的热刺激电流表示了陷阱密度的变化与辐照剂量的关系。在75℃时热刺激电流（TSC）曲线出现一显著的电流峰，峰值位置与辐照剂量无明显关系。实验表明辐照使各个能级下的陷阱密度均匀变化，并与辐照剂量成指数关系。介质损耗因数随辐照剂量增加而升高。当辐照剂量为5×10,6,Gy时，陷阱密度和介质损耗因数均出现反常变化。

Abstract

The variation of trap densities in polyimide films with the irradiation dose are investigated by TSC, together with the study of the dielectric property. At 75℃ a TSC peak appears, and the peak position has no obvious relation with the irradiation dose. It is found that the trap densities at each energy depth varies homogeneously with the action of irradiation, and increases exponentially with the absorbed dose. At the same time the dielectric dissipation factor increases with the dose. However, an extraordinary change is seen at the dose of 5×10,6, Gy.

关键词

辐照热刺激电流陷阱聚酰亚胺薄膜

Keywords

IrradiationThermally stimulated currentTrapPolyimideFilm

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