量热法和阶梯叠层法测量低能电子束辐照参数

罗瑞; 张雨禾; 毛娜请

doi:10.11889/j.1000-3436.2024-0045

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量热法和阶梯叠层法测量低能电子束辐照参数

辐射交叉学科研究 | 更新时间：2025-06-03

- 量热法和阶梯叠层法测量低能电子束辐照参数
- Development of a method for measuring low energy electron beam irradiation parameters by calorimetry and step stacking
- “电子束辐照加工领域取得新进展，专家研制出低能电子束吸收剂量测量装置，为辐照加工提供计量保障。”
- 辐射研究与辐射工艺学报 2025年43卷第1期页码：10701
- 作者机构：
  
  中国原子能科学研究院计量与校准技术重点实验室北京 102413
- 作者简介：
  
  罗瑞，男，1991年出生，2022年于中国原子能科学研究院获博士学位，电离辐射计量专业， E-mail: luorui@cnncmail.cn
- 基金信息：
  
  国防技术基础(JSJL2018201A001)
- DOI：10.11889/j.1000-3436.2024-0045
  中图分类号： TL84
- 收稿日期：2024-05-21，
  
  修回日期：2024-07-11，
  
  录用日期：2024-07-11，
  
  纸质出版日期：2025-02-20
- 稿件说明：
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罗瑞, 张雨禾, 毛娜请. 量热法和阶梯叠层法测量低能电子束辐照参数[J]. 辐射研究与辐射工艺学报, 2025, 43(1): 010701.

LUO Rui, ZHANG Yuhe, MAO Naqing. Development of a method for measuring low energy electron beam irradiation parameters by calorimetry and step stacking[J]. Journal of Radiation Research and Radiation Processing, 2025, 43(1): 010701.
罗瑞, 张雨禾, 毛娜请. 量热法和阶梯叠层法测量低能电子束辐照参数[J]. 辐射研究与辐射工艺学报, 2025, 43(1): 010701. DOI： 10.11889/j.1000-3436.2024-0045. CSTR： 32195.14.j.JRRRP.1000-3436.2024-0045.

LUO Rui, ZHANG Yuhe, MAO Naqing. Development of a method for measuring low energy electron beam irradiation parameters by calorimetry and step stacking[J]. Journal of Radiation Research and Radiation Processing, 2025, 43(1): 010701. DOI： 10.11889/j.1000-3436.2024-0045. CSTR： 32195.14.j.JRRRP.1000-3436.2024-0045.

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